对于正态分布的过程,有关Cp、Cpk和缺陷率的说法，正确的是()

A.10.001mm

B.10.002mm

C.10.004mm

D.10.006mm

A.10.001mm

B.10.002mm

C.10.004mm

D.10.006mm

A.可使用BOX-COX办法转化为正态分布

B.可使用Johnson变换法转化为正态分布

C.不必转化为正态分布，使用非正态的CP\CPK计算公式计算

D.数据一定可以转化为正态分布

A.过程能力是过程在受控的状态下，客户要求与过程表现的比值

B. Cpk是过程能力指数，它应用于所有的数据类型

C. Cp,Cpk,DPO,DPMO,PPM,Zlt,Zst等都是表示过程能力的过程能力指数

D. 过程不受控或数据不是正态分布时，无法进行过程能力分析

A.L的Cp要比M和N都要大，因其变异要大

B.L的Cp要比M和N都要小，因其变异要小

C.M和N的Cpk相等，但Cp不等，因其平均不同

D.M和N的Cp相等，但Cpk不等，因其平均不同，变异相同

A.Cp > Cpk

B.Cp < Cpk

C.Cp ≤ Cpk

D.Cp ≥ Cpk

A.生产过程的均值偏离目标太远，且过程的标准差太大。

B.生产过程的均值偏离目标太远，过程的标准差尚可。

C.生产过程的均值偏离目标尚可，但过程的标准差太大。

D.对于生产过程的均值偏离目标情况及过程的标准差都不能做出判断。

A.生产过程的均值偏离目标太远，且过程的标准差太大

B.生产过程的均值偏离目标太远，过程的标准差尚可

C.生产过程的均值偏离目标尚可，但过程的标准差太大

D.对于生产过程的均值偏离目标情况及过程的标准差都不能做出判断

A、CP>CPK

B、CP=CPK

C、CP＜CPK

D、无对应关系

A.1.0>Cpk≥0.67

B.1.67≥Cp>1

C.1.33≥Cp>1